悬臂探针卡接触电阻产生的原因、影响和解决方法
--探针卡定期进行探针污染清理定期保养重要性
一、环氧树脂悬臂探针卡结构图
二、探针信号路径电阻和探针卡接触电阻的定义：
探针卡信号路径电阻，是从焊点到测试仪的总电阻。它包括接触电阻、探针电阻、trace焊点电阻、PCB上插头等焊接电阻、测试接口针脚互联电阻的总和。
根据探针信号电阻定义，可以看出探针接触电阻是信号电阻的重要组成部分。那么接触电阻具体是什么？其实探针卡接触电阻，是探针针尖与焊点之间接触时的层间电阻。
一般情况下，我们的测试客户在实际参数测试操作应用中，会用信号路径电阻来替代接触电阻，因为它们2者之间在很多情况下关联很大。特别是在检测虚焊和断路的时候，测试服务商经常需要为路径电阻指定一个标准值。
三、影响接触电阻的因素：
在实际应用中，接触电阻很大程度取决于焊点材料、清针次数和探针状况。由于焊点材料是设计针卡时材质已经确定的，无法随便更换。所以定期监测探针状况和进行清理针尖污染，对于改善接触电阻，就变得尤为重要。
目前我们为客户提供的铼钨针，抗疲劳性能好，其接触电阻比钨更加稳定，能满足我们测试服务客户的大多数情况的需求。
如果不进行定期清针保养，会导致长时间探针磨损，使得探针卡接触电阻变大，产生打火烧融现象，影响探针顶端针尖形状和大小，最终导致测试参数的结果。那么我们应该怎样进行探针污染清理？
四、 君睿科技提供探针卡污染清理服务
由上可知，高接触电阻是造成探针测试异常和降低测试效率的最大原因之一，而探针针尖的磨损和随之而来的因金属氧化堆积在探针针尖的污染物会造成接触电阻增大。
所以，定期进行清理针尖污染和维修调针是增加探针针尖长期性能的重要解决方案。那么，在具体有几种情况会引起污染物现象？ 一般有2个方面原因：
1． 探针产生的高接触电阻 ：比如因探针材质氧化产生的氧化钨、因焊垫氧化产生的氧化铝和因接触压力大产生深入pad钝化层的杂质，以及氮化硅、电子激活的电介质堆积、聚合物和包装材料杂质等；
2． 由于高接触电产生的附带后果
如果您是测试厂的操作人员，通常发现高接触电阻的第一个信号是当您发现探针台map图上异常测试失败的结果时，这时应该暂停测试。将探针针尖放置显微镜下，进行检查，确认针尖是否已经污染或者针短无法接触等情况。
如果您遇到这种情况，需要进行针尖污染物处理，请与我们联系。我们专业的探针卡售后服务团队，会根据您的探针卡材质和针尖的形状，制定切合实际的定制化清理解决方案。
